HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

簡要描述：HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀
型號XGT-9000
XGT-9000 樣品倉可容納各種樣品，包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓等，并根據需求提供樣品架。

產品分類

詳細介紹

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

XGT-9000

速度和靈活性兼備是微區 X 射線熒光光譜的發展方向

<15µm高強度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率

高分辨相機和多種照明模式成像

雙檢測器，熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

技術參數

型號	XGT-9000	XGT-9000SL
基本信息
儀器	微區X射線熒光分析儀
樣品類型	固體、液體、顆粒
檢測元素	輕元素檢測器：C* – Am (常規檢測器：F – Am)
樣品倉尺寸	450(W) x 500(D) x 80(H)	1030(W) x 950(D) x 500(H)
樣品尺寸	300(W) x 250(D) x 80(H)	500(W) x 500(D) x 500(H)
樣品質量	1 kg	10 kg
光學觀察	兩個帶物鏡的高分辨率相機
光學設計	垂直同軸 X 射線和光學觀察
樣品照明/觀察	頂部、底部和側向照明/明場和暗場
X-射線管
功率	50 W
電壓	50 kV以下
電流	1 mA以內
靶材	Rh
X射線光光學系統
X射線頭數量	多達配置四個
光譜優化初級X-射線濾光片	5個位置
檢測器
熒光X-射線檢測器	硅漂移檢測器（SDD）
透射X射線檢測器	NaI(Tl)
掃描分析
掃描范圍	100 mm x 100 mm	350 mm x 350 mm
步進尺寸	2 mm	4 mm
Operating mode
樣品環境	全真空/局部真空/大氣環境/He吹掃（選配）	局部真空/大氣環境/He吹掃（選配）*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。

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